一“箱"測(cè)盡酷暑嚴(yán)寒，品質(zhì)無懼挑戰(zhàn)

在產(chǎn)品研發(fā)與質(zhì)量管控過程中，產(chǎn)品能否在溫差變化較大的環(huán)境下保持穩(wěn)定運(yùn)行，是許多工程人員關(guān)注的問題。冷熱沖擊試驗(yàn)箱正是為解決這一問題而設(shè)計(jì)的檢測(cè)設(shè)備。

設(shè)備功能簡介

冷熱沖擊試驗(yàn)箱通過快速切換高溫與低溫環(huán)境，模擬產(chǎn)品在溫度變化條件下承受的熱應(yīng)力與機(jī)械應(yīng)力。常見應(yīng)用包括：

電子元器件（如PCB板、芯片）在溫度變化條件下的可靠性驗(yàn)證

塑料、橡膠等材料在冷熱交替環(huán)境中的性能變化測(cè)試

電池包、汽車零部件等成品在溫差條件下的功能檢查

工作原理簡述

設(shè)備通常由高溫區(qū)、低溫區(qū)和測(cè)試區(qū)組成。通過吊籃移動(dòng)或氣流切換方式，使樣品在高溫區(qū)與低溫區(qū)之間快速轉(zhuǎn)移，完成一次溫度沖擊。每次沖擊過程可按標(biāo)準(zhǔn)設(shè)定高溫停留時(shí)間、低溫停留時(shí)間及轉(zhuǎn)換速度。

常見技術(shù)參數(shù)

項(xiàng)目常見范圍

高溫區(qū)溫度+60℃ ～ +200℃

低溫區(qū)溫度-70℃ ～ 0℃

溫度恢復(fù)時(shí)間≤5分鐘（帶負(fù)載條件下）

轉(zhuǎn)換時(shí)間≤10秒

循環(huán)次數(shù)設(shè)定1～1000次

適用標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.22 – 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化

IEC 60068-2-14 – 環(huán)境試驗(yàn) 第2-14部分：試驗(yàn) 試驗(yàn)N：溫度變化

JESD22-A104 – 溫度循環(huán)標(biāo)準(zhǔn)（半導(dǎo)體行業(yè)）

選型參考

研發(fā)階段、小批量測(cè)試：可選用兩箱式吊籃結(jié)構(gòu)，轉(zhuǎn)換速度快，占用空間較小

生產(chǎn)線、批量測(cè)試：可選用三箱式氣動(dòng)結(jié)構(gòu)，樣品無需移動(dòng)，適合連續(xù)測(cè)試

薄型或精密樣品：需關(guān)注箱內(nèi)風(fēng)速均勻度及凝露控制情況

使用價(jià)值

通過冷熱沖擊試驗(yàn)，工程人員可以在較短時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在設(shè)計(jì)或材料選用上的薄弱環(huán)節(jié)，如焊點(diǎn)開裂、封裝分層、材料脆化等。根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行針對(duì)性改進(jìn)，有助于提升產(chǎn)品的整體可靠性。